光電探測(cè)器噪聲分類(lèi)：
 

　　光電探測(cè)器噪聲包括:散彈噪聲、熱噪聲、產(chǎn)生-復(fù)合噪聲、1/f噪聲和溫度噪聲等。
 

　　1、散彈噪聲：由于光電探測(cè)器在光輻射作用或熱激發(fā)下，光電子或載流子隨機(jī)產(chǎn)生造成的。存在于真空發(fā)射管和半導(dǎo)體器件中，屬于白噪聲。
 

　　2、熱噪聲：暗電流大小與偏壓、溫度及反向飽和電流密切相關(guān)。PN結(jié)外加正向偏壓，暗電流隨外加電壓增大成指數(shù)急劇增大，遠(yuǎn)大于光電流，因此加正偏壓無(wú)意義。PN結(jié)外加反向偏壓，暗電流隨反向偏壓增大有所增大，*后等于反向飽和電流，其值遠(yuǎn)小于光電流。
 

　　3、產(chǎn)生-復(fù)合噪聲：半導(dǎo)體中載流子產(chǎn)生與復(fù)合的隨機(jī)性而引起的載流子濃度的起伏。與散彈噪聲本質(zhì)相同，都是由于載流子隨機(jī)起伏所致，所以有時(shí)將該噪聲歸并為散彈噪聲。不是白噪聲，低頻限噪聲。是光電探測(cè)器的主要噪聲源。
 

　　4、1/f噪聲：(又稱(chēng)電流噪聲、閃爍噪聲或過(guò)剩噪聲)，低頻噪聲，幾乎所有探測(cè)器都存在。探測(cè)器表面工藝狀態(tài)對(duì)該噪聲影響很大。頻譜近似與頻率成反比。主要出現(xiàn)在1kHz以下的低頻區(qū)，工作頻率大于1kHz時(shí)，與其他噪聲相比可忽略。
 

　　5、倍增噪聲：光電倍增管。
 

　　6、雪崩噪聲：雪崩光電二極管。
 

　　7、溫度噪聲：熱探測(cè)器本身吸收和傳導(dǎo)等熱交換引起的溫度起伏。